CASCADE MICROTECH

지정상품

• 감열식 처크 (thermal chucks- 집적회로 및 반도체 장치를 시험하기 위한 것임)
• 기본단위계량기기
• 마이크로전자 칩 탐색용 포지셔너 (positioners for probing microelectronic chips)
• 반도체
• 반도체 장치 및 집적회로의 제조/시험/검사 과정에 사용되는 기계기구
• 반도체 장치 탐색용 포지셔너 (positioners for probing semiconductor devices)
• 반도체 장치용 광학검사기기
• 반도체소자
• 웨이브가이드 프로브 (waveguide probes- 회로의 웨이퍼상 탐색을 위한 것임)
• 재료실험기기
• 전기측정기기
• 전기플러그
• 전자관
• 전자신호 측정용 프로브
• 정밀측정기기
• 집적회로
• 집적회로 및 반도체 장치의 전자 신뢰도 시험용 기구
• 집적회로 탐색용 포지셔너 (positioners for probing integrated circuits)
• 집적회로용 광학검사기기
• 처크 (chucks- 시험되는 집적회로 및 반도체 장치를 지지하기 위한 것임)
• 컴퓨터
• 컴퓨터 하드웨어 (반도체 장치 및 집적회로의 제조/시험/검사 과정에 사용되는 것임)
• 컴퓨터 소프트웨어
• 컴퓨터 소프트웨어 (반도체 시험 기계를 작동하기 위해 사용하는 것임)
• 컴퓨터 소프트웨어 (반도체 장치 및 집적회로의 제조/시험/검사 과정에 사용되는 것임)
• 컴퓨터 소프트웨어 (집적회로의 시험 및 프로브/프로브 스테이션을 측정하기 위한 것임)
• 프로브 (probes- 집적회로 및 반도체 장치를 시험하기 위한 것임)
• 프로브 스테이션 (probe stations- 집적회로 및 반도체 장치를 시험하기 위한 것임)
• 프로브 카드 (probe cards- 집적회로 및 반도체 장치를 시험하기 위한 것임)
• 프로브 헤드 (probe heads- 집적회로 및 반도체 장치를 시험하기 위한 것임)
• 회로기판